全自動晶圓探針臺
適應4~12寸晶圓測可提供高低溫、高電壓、低漏電等不同測試環境配置 設備簡單易用、性能穩定,具備高度、高效率、低振動和低噪聲
CP300半自動探針臺
CP300系列|300mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試, 操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。
CP200半自動探針臺
CP200系列|200mm半自動探針臺能對晶片實現自動對位測試 操作簡單,快捷,測試精度高,具有MAP顯示功能。 與測試儀連接后,能自動完成對各種晶體管芯的電參數測試及功能測試。